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Caracterización óptica y estructural de monocapas de silicio poroso por medio de reflectancia en la región visible y rayos X
Editorial: CEPRECYT
Licencia: Creative Commons (by-nc-sa)
Autor(es): Roque, Danilo
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Autor(es): Roque, Danilo
Una monocapa de silicio poroso con porosidad variable a lo largo del espesor fue caracterizando usando diferentes técnicas ópticas. Los resultados muestran que las técnicas basadas en reflectancia en la región visible divergen en aproximadamente 20% de aquellas encontradas por medio de los métodos basados en rayos X. Esa divergencia es una consecuencia de la variación del índice de refracción con la longitud de onda, tanto de la estructura porosa como del líquido empleado para el análisis.
[2019]
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